<blockquote id="0omdw"></blockquote>
產品中心
PRODUCTS CNTER
產品簡介
●通過分光光度分布對紫外光進行高精度測量●從配光上評估紫外光的最大發光強度、光束開度、光束光通量●涵蓋從紫外線到可見光的波長范圍●支持從 LED 芯片到模塊和應用產品的廣泛樣品●用軟件批量控制電源和測量儀器
相關文章
紫外線輻射強度或輻照度中的光分布角分布
最大光度、光束開度、光束光通量
輻射通量、輻射強度、輻照度
總光通量
光譜數據
根據配光測量系統的測量項目
總光通量、色度坐標xy、uv、u’v’相關色溫、Duv、主波長、刺激純度顯
色指數Ra、R1至R15
峰值波長、半值范圍
* 1：測量期間安裝樣品的方向。
底座朝下：水平面安裝
底座側：垂直面 安裝
*2：配光測量的測量波長范圍為250～850nm
*3：可選產品請參考總光通量測量系統規格頁.
桌面型設備。將 LED 芯片放置在水平面上并進行測量。
受光部一側為1軸，樣品側為1軸的驅動系統。
由于樣品可以放置在平坦的表面上，因此測量再現性和位置調整很容易。
適用于測量LED芯片等不易安裝的小樣品。
桌面型設備。這是一般配光裝置的光學系統。
受光部分與樣品部分高度相同，樣品側采用2軸驅動系統。
它可以處理從芯片類型到小模塊樣品的廣泛產品。
大型設備。安裝需要一個使用一個暗室的地方。
該設備用于測量大而重的光源，如泛光燈。
這是用光譜光分布測量 UV-LED 的結果。
根據輻射強度繪制配光曲線。
通過對光分布測量得到的每個θ處的光譜輻射強度
使用球面系數法，可以得到UV-LED發射的總光譜通量。
公司郵箱： qgao@buybm.com
服務熱線： 021-33897997
公司地址： 上海市浦東新區周康路26號E棟408
Copyright © 2025 上海波銘科學儀器有限公司 AlL Rights Reserved
備案號：滬ICP備19020138號-2
技術支持：化工儀器網 管理登錄 sitemap.xml
關于我們
公司簡介 企業文化 榮譽資質 聯系我們快速通道
產品中心 新聞中心 技術文章 在線留言推薦產品
OPTM 系列顯微分光膜厚儀 半導體晶圓缺陷檢測儀 ELSZ-2000系列ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統 RU120便攜式拉曼光譜儀
當前位置：
產品分類
上一個：
返回列表