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PRODUCT CLASSIFICATION

光譜系統

顯微缺陷膜厚半導體晶圓缺陷檢測儀高光譜測試系統瞬態吸收系統太陽能電池量子效率太陽光模擬器IV系統顯微光電流成像系統探測器光響應度系統光譜變溫附件探針臺拉曼SERS增強試劑顯微熒光系統組合熒光系統鏡頭透過率測試系統漫反射率測試系統反射、吸收率系統成像亮度計標準燈參考輻射定標電致發光系統常規發射光譜系統共聚焦拉曼光譜儀

ZETA電位 · 粒徑 · 分子量·ELSZ-2000ZS

●可測量稀薄溶液~濃厚溶液的ZETA電位和粒徑，并可進行分子量測量的檢測裝置。 ●適用于粒徑測量范圍（0.6nm~10um）,濃度范圍（0.00001%~40%）。

更新時間：2025-05-07

產品型號：

瀏覽量：436
OPTM series 嵌入型

利用顯微微分光膜厚計OPTM series的高精度、微小光點，在線提供制作晶片圖案后的微小區域測量等膜厚信息。

更新時間：2025-05-07

產品型號：

瀏覽量：397
Load Port對應膜厚測量系統 GS-300

●Φ支持到300mmEFM單元備用端口的集成 ●實現嵌入在晶片中的布線圖案的圖案對齊 ●支持半導體工藝的高吞吐量要求 ●支持槽口對齊功能 ●小尺寸規格 ●高精度自動校準單元

更新時間：2025-05-07

產品型號：

瀏覽量：460
半導體晶圓缺陷檢測儀

半導體晶圓缺陷檢測儀利用亮場和暗場顯微成像技術，通過自動化的圖像捕捉以及人工智能分析工具，為晶圓表面缺陷的檢測提供了快速且高效的解決方案。

更新時間：2025-05-07

產品型號：

瀏覽量：7557
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統

ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統可測量濃度低的溶液～濃度高的溶液的ZETA電位?粒徑及分子量。

更新時間：2025-05-07

產品型號：ELSZ-2000系列

瀏覽量：6363
光電流測試

光電流測試是一種用于測量器件或材料的光電性能的測試方法，主要應用于半導體器件、光電器件、太陽能電池等領域。

更新時間：2025-05-07

產品型號：S-LBIC

瀏覽量：1881

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