<blockquote id="0omdw"></blockquote>
產品中心
PRODUCTS CNTER
產品簡介
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統可測量濃度低的溶液～濃度高的溶液的ZETA電位?粒徑及分子量。
相關文章
| 型號 | 粒徑測量 | ZETA電位測量 | 分子量測量 | PH滴定測量 |
| ELSZ-2000ZS | ● | ● | ● | ●*1 |
| ELSZ-2000Z | ● | ● | - | ●*1 |
| ELSZ-2000S | ● | - | ● | ●*2 |
*1：需搭配選配件PH滴定儀 *2：需搭配選配件PH滴定儀和粒徑流動容器
●最新型號高靈敏度APD，提高靈敏度，縮短測量時間
●通過自動溫度梯度測量可以進行變性、相變溫度分析
●可以在0 ~ 90℃的寬溫度范圍內進行測量
●增加寬范圍分子量測定和分析功能
●可對應渾濁的高濃度樣品的粒徑·ZETA電位測定
●測量樣品池內的電滲透流，通過圖譜分析提供高精度的ZETA電位測量結果
●可對應高鹽濃度溶液的ZETA電位測定
●可對應小尺寸固體樣品的ZETA電位測量
非常適用于界面化學、無機物質、半導體、聚合物、生物學、制藥和醫學領域的基礎研究和應用研究，不僅對應微小顆粒，還適用于薄膜和平板表面的科學研究。
●新型功能材料領域
燃料電池相關（碳納米管、富勒烯、功能膜、催化劑、納米金屬）
納米生物相關（納米膠囊、樹枝狀聚合物、DDS、納米生物粒子）、納米氣泡等。
●陶瓷/著色材料工業領域
陶瓷（二氧化硅/氧化鋁/氧化鈦等）
無機溶膠的表面改性/分散/聚集控制
顏料的分散/聚集控制（炭黑/有機顏料）
漿料狀樣品
濾光器
浮游選定礦物的捕集材料的收集和研究
●半導體領域
異物附著在硅晶片表面的原理解析
研磨劑和添加劑與晶片表面的相互作用的研究
CMP漿料的相互作用
●高分子聚合物/化工領域
乳液（涂料/粘合劑）的分散/聚集控制，乳膠的表面改性（醫藥/工業）
聚電解質（聚苯乙烯磺酸鹽，聚羧酸等）的功能性研究、功能納米顆粒
紙/紙漿造紙過程控制和紙漿添加劑研究
●制藥/食品工業領域
乳液（食品/香料/醫療/化妝品）分散/聚集控制及蛋白質的機能性檢測
脂質體/囊泡分散/聚集控制及表面活性劑（膠束）機能性檢測
公司郵箱： qgao@buybm.com
服務熱線： 021-33897997
公司地址： 上海市浦東新區周康路26號E棟408
Copyright © 2025 上海波銘科學儀器有限公司 AlL Rights Reserved
備案號：滬ICP備19020138號-2
技術支持：化工儀器網 管理登錄 sitemap.xml
關于我們
公司簡介 企業文化 榮譽資質 聯系我們快速通道
產品中心 新聞中心 技術文章 在線留言推薦產品
OPTM 系列顯微分光膜厚儀 半導體晶圓缺陷檢測儀 ELSZ-2000系列ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統 RU120便攜式拉曼光譜儀
當前位置：
產品分類
上一個：
返回列表