分光輻射照度測量系統(tǒng)

產品簡介
該檢測器是一種高性能的分光光度計，在光源測量、反射/透射測量、過程測量等方面取得了多項成果。覆蓋從紫外線到可見光和可見光到紅外線的寬波長范圍

產品型號：

更新時間：2025-05-07

廠商性質：生產廠家

訪問量：482

產品咨詢 18117546256

產品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

光譜系統(tǒng)

顯微缺陷膜厚半導體晶圓缺陷檢測儀高光譜測試系統(tǒng) 瞬態(tài)吸收系統(tǒng) 太陽能電池量子效率太陽光模擬器IV系統(tǒng) 顯微光電流成像系統(tǒng) 探測器光響應度系統(tǒng) 光譜變溫附件探針臺拉曼SERS增強試劑顯微熒光系統(tǒng) 組合熒光系統(tǒng) 鏡頭透過率測試系統(tǒng) 漫反射率測試系統(tǒng) 反射、吸收率系統(tǒng) 成像亮度計標準燈參考輻射定標電致發(fā)光系統(tǒng) 常規(guī)發(fā)射光譜系統(tǒng) 共聚焦拉曼光譜儀

詳細介紹在線留言

產品信息

特殊長度

該檢測器
是一種高性能的分光光度計，在光源測量、反射/透射測量、過程測量等方面取得了多項成果。

覆蓋從紫外線到可見光和可見光到紅外線的寬波長范圍

帶軟件的樣品照明電源，測量儀器批量控制
LIV測量，脈沖點測量，樣品溫控測量

設備校準的標準燈由我們自己的部門提供，并由 JCSS 校準公司注冊。

評價項目

照度、輻照度

光譜數據（光譜輻照度）

其他測量項目
三刺激值 XYZ、色度坐標 xy、uv、
u’v’相關色溫、Duv、主波長、刺激純度顯
色指數 Ra、R1 至 R15
峰值波長、半寬
光子通量密度 PFD、光合光子磁通密度PPFD

設備構成

單點型

分光輻射照度測量系統(tǒng)

半導體晶圓的面內分布測量

玻璃基板的面內分布測量

多點型

分光輻射照度測量系統(tǒng)

實時測量

流向品質管理

真空室適用

導線型

分光輻射照度測量系統(tǒng)

實時測量

寬度方向品質管理

測量案例

超硬涂層的膜厚解析

分光輻射照度測量系統(tǒng)

上一個：分光干涉式晶圓膜厚儀 SF-3

返回列表

下一個：分光配光測量系統(tǒng) GP series

在線留言

留言框

產品：
您的單位：
您的姓名：
聯(lián)系電話：
常用郵箱：
省份：
詳細地址：
補充說明：
驗證碼：

請輸入計算結果（填寫阿拉伯數字），如：三加四=7

產品簡介 該檢測器 是一種高性能的分光光度計 ，在光源測量、反射/透射測量、過程測量等 方面取得 了 多項成果 。 覆蓋從紫外線到可見光和可見光到紅外線的寬波長范圍

產品信息

特殊長度

評價項目

設備構成

單點型

多點型

導線型

測量案例

留言框

產品：

您的單位：

您的姓名：

聯(lián)系電話：

常用郵箱：

省份：

詳細地址：

補充說明：

驗證碼：

產品簡介
該檢測器是一種高性能的分光光度計，在光源測量、反射/透射測量、過程測量等方面取得了多項成果。覆蓋從紫外線到可見光和可見光到紅外線的寬波長范圍