線掃描膜厚儀（離線型）

產品簡介
●全面高速高精度進行薄膜等面內膜厚不均一性檢測

●硬件&軟件均為創新設計

●作為專業膜厚測定廠商，提供多種支援

●實現高精度測量（已取得專zhuan利）

●實現高速測量（500萬點以上/分）

產品型號：

更新時間：2025-05-07

廠商性質：生產廠家

訪問量：796

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產品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

光譜系統

顯微缺陷膜厚半導體晶圓缺陷檢測儀高光譜測試系統瞬態吸收系統太陽能電池量子效率太陽光模擬器IV系統顯微光電流成像系統探測器光響應度系統光譜變溫附件探針臺拉曼SERS增強試劑顯微熒光系統組合熒光系統鏡頭透過率測試系統漫反射率測試系統反射、吸收率系統成像亮度計標準燈參考輻射定標電致發光系統常規發射光譜系統共聚焦拉曼光譜儀

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線掃描膜厚儀（離線型）

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250mm寬的薄膜案例

上海波銘科學儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統、晶萃光學機械和光學平臺、激光器、Edmund 光學元件、Newport 產品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學測試系統、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機、Semilab 半導體測試設備及高低溫探針臺系統。經過多年的發展，上海波銘科學儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產品和服務在行業內具有較高的知zhi名度和美譽度，客戶遍布全國。我們將繼續努力，不斷提升市場地位和影響力。

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●全面高速高精度進行薄膜等面內膜厚不均一性檢測

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●作為專業膜厚測定廠商，提供多種支援

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●實現高速測量（500萬點以上/分）

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